A convergent-beam parallel detection x-ray diffraction system for characterizing combinatorial epitaxial thin films

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A convergent-beam parallel detection x-ray diffraction system for characterizing combinatorial epitaxial thin films

著者

和文:	K. Omote, T. Kikuchi, J. Harada, M. Kawasaki, A. Ohtomo, M. Ohtani, T. Ohnishi, D. Komiyama, H. Koinuma.
英文:	K. Omote, T. Kikuchi, J. Harada, M. Kawasaki, A. Ohtomo, M. Ohtani, T. Ohnishi, D. Komiyama, H. Koinuma.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. SPIE

巻, 号, ページ

Vol. 3941 pp. 84-91

出版年月

2000年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: