【重要】T2R2・STARSearchの停止と後継システムについて
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論文・著書情報
タイトル
和文:
シリコンバルク半導体における漏れ電流と表面フラッシオーバ
英文:
Leakage Current and Surface Flashover in Silicon Bulk Semiconductor
著者
和文:
石井彰三
.
英文:
SHOZO ISHII
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
電気学会論文誌
英文:
Trans IEE of Japan
巻, 号, ページ
Vol. 114-A No. 4 pp. 309
出版年月
1994年
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
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開催地
和文:
英文:
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