Relationship between YSZ Thickness and Dislocation Densities of Both YSZ and CeO<sub>2</sub> Layers in Heteroepitaxial CeO<sub>2</sub>/YSZ/Si(001) Films Determined by Precise X-ray Rocking Curves Fitness.

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Relationship between YSZ Thickness and Dislocation Densities of Both YSZ and CeO₂ Layers in Heteroepitaxial CeO₂/YSZ/Si(001) Films Determined by Precise X-ray Rocking Curves Fitness.

著者

和文:	Chun-Hua Chen, N.Wakiya, A.Saiki, K.Shinozaki, N.Mizutani.
英文:	Chun-Hua Chen, N.Wakiya, A.Saiki, K.Shinozaki, N.Mizutani.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	日本セラミックス協会第16回関東支部研究発表会

巻, 号, ページ

No. 1A09 pp. 74-75

出版年月

2000年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
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