The x-ray diffraction mapping of thin films with concurrent x-ray diffractometer

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	The x-ray diffraction mapping of thin films with concurrent x-ray diffractometer

著者

和文:	M. Ohtani, T. Fukumura, M. Lippmaa, R. Takahashi, Y. Matsumoto, M. Kawasaki, H. Koinuma, K. Omote, T. Kikuchi, J. Harada.
英文:	M. Ohtani, T. Fukumura, M. Lippmaa, R. Takahashi, Y. Matsumoto, M. Kawasaki, H. Koinuma, K. Omote, T. Kikuchi, J. Harada.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. of the fifth Symp. on Atomic-scale Surface and Interface Dynamics

巻, 号, ページ

pp. 335-338

出版年月

2001年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: