Sampling theorem for surface profiling by white-light interferometry

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Sampling theorem for surface profiling by white-light interferometry

著者

和文:	Hidemitsu Ogawa, Akira Hirabayashi, Katsuichi Kitagawa.
英文:	Hidemitsu Ogawa, Akira Hirabayashi, Katsuichi Kitagawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	SampTA 2001, The Fourth Int. Conf. of SampTA, 2001.05.13-17, Orlando,Florida

巻, 号, ページ

pp. 91-96

出版年月

2001年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: