導波管内小試料による散乱解析と材料定数測定法への応用の検討

論文・著書情報

タイトル

和文:	導波管内小試料による散乱解析と材料定数測定法への応用の検討
英文:	Analysis for the scattering by a small sample in a waveguide and its application to material measurement

著者

和文:	西方敦博.
英文:	Atsuhiro Nishikata.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	2001年電子情報通信学会総合大会講演論文集
英文:	Proceedings of the 2001 IEICE general conference

巻, 号, ページ

Vol. SB-3-4 pp. 767-768

出版年月

2001年

出版者

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会議名称

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開催地

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