Film Thickness Dependence of Structure and Dielectric Property of Pb(Mg1/3Nb2/3)O3/ BaTiO3/Pt/Ti/SiO2/Si by Grazing Incident X-ray Diffraction

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Film Thickness Dependence of Structure and Dielectric Property of Pb(Mg1/3Nb2/3)O3/ BaTiO3/Pt/Ti/SiO2/Si by Grazing Incident X-ray Diffraction

著者

和文:	Chun-Hua Chen, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani.
英文:	Chun-Hua Chen, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Extended Abstracts of the 2nd Asian Meeting on Electroceramics

巻, 号, ページ

No. 1A11 pp. 18

出版年月

2001年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: