Evolving shock-wave profiles measured in a silicon crystal by picosecond time-resolved x-ray diffraction

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Evolving shock-wave profiles measured in a silicon crystal by picosecond time-resolved x-ray diffraction

著者

和文:	Y. HIRONAKA, A. YAZAKI, F. SAITO, K. G. NAKAMURA, K. KONDO, H. TAKENAKA, M. YOSHIDA.
英文:	Y. HIRONAKA, A. YAZAKI, F. SAITO, K. G. NAKAMURA, K. KONDO, H. TAKENAKA, M. YOSHIDA.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Appl. Phys. Lett

巻, 号, ページ

Vol. 77 No. 13 pp. 1967-1969

出版年月

2000年

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

和文:
英文: