Interface-structure analysis of amorphous semiconductor heterojunctions by in-situ X-ray photoelectron spectroscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Interface-structure analysis of amorphous semiconductor heterojunctions by in-situ X-ray photoelectron spectroscopy

著者

和文:	M. Kawasaki, Y. Matsuxaki, H. Koinuma.
英文:	M. Kawasaki, Y. Matsuxaki, H. Koinuma.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Phys. Rev. B

巻, 号, ページ

Vol. 39 pp. 13316-13322

出版年月

1989年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: