Highly Sensitive Analysis for Valence Band Edge of C┣D260┫D2 Films by Total Yield Photoelectron Spectroscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Highly Sensitive Analysis for Valence Band Edge of C┣D260┫D2 Films by Total Yield Photoelectron Spectroscopy

著者

和文:	S. Gonda, M. Kawasaki, M. Yoshimoto, M. Kumagai, H. Koinuma.
英文:	S. Gonda, M. Kawasaki, M. Yoshimoto, M. Kumagai, H. Koinuma.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Mat. Res. Symp. Proc.

巻, 号, ページ

Vol. 349 pp. 325-330

出版年月

1994年

出版者

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会議名称

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開催地

和文:
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