GdO<sub>x</sub>/Si(100)およびLuO<sub>x</sub>/Si(100)界面遷移層の角度分解X線光電子分光解析 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	GdO_x/Si(100)およびLuO_x/Si(100)界面遷移層の角度分解X線光電子分光解析
英文:

著者

和文:	白石貴義, 中村智裕, 吉田徹史, 高橋健介, 柏木郁未, 大島千鶴, 武田光弘, 野平博司, 大見俊一郎, 岩井洋, 服部健雄.
英文:	白石貴義, 中村智裕, 吉田徹史, 高橋健介, 柏木郁未, 大島千鶴, 武田光弘, 野平博司, 大見俊一郎, 岩井洋, 服部健雄.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	第63回応用物理学会学術講演会講演予稿集
英文:

巻, 号, ページ

Vol. 2 pp. 735

出版年月

2002年

出版者

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会議名称

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英文:

開催地

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英文:

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