走査型ケルビンプローブ顕微鏡によるSi(111)の高分解能表面電位分布観察 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	走査型ケルビンプローブ顕微鏡によるSi(111)の高分解能表面電位分布観察
英文:

著者

和文:	塩田忠, 中山景次.
英文:	tadashi shiota, Keiji Nakayama.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	第22回表面科学講演大会講演要旨集
英文:

巻, 号, ページ

pp. 23

出版年月

2002年

出版者

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会議名称

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開催地

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