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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Electrical characteristics of rare-earth oxides stacked-layer structures 
著者
和文: S. Ohmi, I. Ueda, Y. Kobayashi, K. Tsutsui, H. Iwai.  
英文: S. Ohmi, I. Ueda, Y. Kobayashi, K. Tsutsui, H. Iwai.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Ext. Abst. of International Workshop on Gate Insulator 
巻, 号, ページ         pp. 28-31
出版年月 2003年11月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文:Tokyo, Japan 
DOI https://doi.org/10.1109/IWGI.2003.159176

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