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論文・著書情報


タイトル
和文:MOSFETのサブスレッショルド電流ばらつき測定のための回路検討 
英文: 
著者
和文: 藤久 雄己, 岡田 健一, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉.  
英文: 藤久 雄己, Kenichi Okada, Takashi Sato, 中山 範明, Kazuya Masu.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         pp. 259-262
出版年月 2006年11月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:電子情報通信学会 システムLSIワークショップ 
英文: 
開催地
和文:北九州国際会議場 
英文: 

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