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論文・著書情報


タイトル
和文:MOSFETのリーク電流ばらつき測定のための回路検討 
英文: 
著者
和文: 藤久 雄己, 上薗 巧, 萩原汐, 岡田健一, 佐藤高史, 中山範明.  
英文: 藤久 雄己, 上薗 巧, 萩原汐, Kenichi Okada, Takashi Sato, 中山範明.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         pp. A-3-22
出版年月 2006年9月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:電子情報通信学会 ソサエティ大会 
英文: 
開催地
和文:金沢大学 
英文: 

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