Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文:0.18um CMOSのRF・アナログ特性評価 
英文: 
著者
和文: 倉科隆, 鄭 明奎, 白戴和, 張 義偉, 松澤 昭.  
英文: Takashi Kurashina, 鄭 明奎, Daehwa Paik, 張 義偉, Akira Matsuzawa.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:電子情報通信学会 シリコンアナログRF研究会 
英文: 
巻, 号, ページ vol. RF2006-4        pp. 2
出版年月 2007年3月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:電子情報通信学会 シリコンアナログＲＦ研究会 
英文: 
開催地
和文:東京 
英文: 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.