Evolving shock-wave profiles measured in a silicon crystal by picosecond time-resolved x-ray diffraction

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Evolving shock-wave profiles measured in a silicon crystal by picosecond time-resolved x-ray diffraction

著者

和文:	Y. Hironaka, A. Yazaki, F. Saito, K.G. Nakamura, H. Takenaka, M. Yoshida, K. Kondo.
英文:	Y. Hironaka, A. Yazaki, F. Saito, K.G. Nakamura, H. Takenaka, M. Yoshida, K. Kondo.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Appl. Phys. Lett.

巻, 号, ページ

Vol. 77 pp. 1967-1969

出版年月

2000年

出版者

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会議名称

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開催地

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DOI