High throughput characterization of magnetic semiconductor thin films with a scanning SQUID microscope

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	High throughput characterization of magnetic semiconductor thin films with a scanning SQUID microscope

著者

和文:	X. J. Fan, M. Murakami, R. Takahashi, T. Koida, Y. Matsumoto, T. Hasegawa, T. Fukumura, M. Kawasaki, P. Ahmet, T. Chikyow, H. Koinuma.
英文:	X. J. Fan, M. Murakami, R. Takahashi, T. Koida, Y. Matsumoto, T. Hasegawa, T. Fukumura, M. Kawasaki, P. Ahmet, T. Chikyow, H. Koinuma.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Mat. Res. Soc. Symp. Proc.

巻, 号, ページ

Vol. 700 pp. 55-60

出版年月

2002年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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