Characterization of (Bi,Nd)4Ti3O12/HfO2/p-Type Si Structures for MFIS-FeRAM Application

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of (Bi,Nd)₄Ti₃O₁₂/HfO₂/p-Type Si Structures for MFIS-FeRAM Application

著者

和文:	田渕良志明, 會澤康治, 田村, 高橋憲弘, 鉾宏真, 加藤, 有本由弘, 石原宏.
英文:	Y.Tabuchi, K. Aizawa, T. Tamura, K. Takahashi, H. Hoko, K. Kato, Y. Arimoto, H. Ishiwara.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Integrated Ferroelectrics

巻, 号, ページ

Vol. 79 pp. 211-218

出版年月

2006年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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DOI