修正法線ベクトルを用いた物理光学近似によるRCS評価の精度 -E波入射 - | T2R2 東京工業大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	修正法線ベクトルを用いた物理光学近似によるRCS評価の精度 -E波入射 -
英文:

著者

和文:	大巻信貴, ロドリゲスルイス, 安藤真.
英文:	Nobutaka Omaki, Luis Rodriguez, Makoto Ando.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	信学技報
英文:

巻, 号, ページ

Vol. A・P2007-139

pp. 99-104

出版年月

2008年1月

出版者

和文:
英文:

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