【重要】T2R2・STARSearchの停止と後継システムについて English

Home > ヘルプ 論文・著書情報 タイトル 和文:   英文: Non-invasive direct probing for on-chip voltage measurement  著者 和文: 佐藤 高史, 山長 功, 益 一哉.   英文: Takashi Sato, Koh Yamanaga, Kazuya Masu.   言語 English  掲載誌/書名 和文:   英文: International SoC design conference (ISOCC)  巻, 号, ページ         pp. 350-353 出版年月 2008年11月  出版者 和文:   英文:   会議名称 和文:   英文: International SoC design conference (ISOCC)  開催地 和文:   英文: Busan, Korea  DOI https://doi.org/10.1109/SOCDC.2008.4815645

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