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論文・著書情報


タイトル
和文:測定系の侵襲性を定量化可能なオンチップ電源電圧変動の直接測定手法 
英文: 
著者
和文: 山長功, 佐藤高史, 益 一哉.  
英文: Koh Yamanaga, Takashi Sato, Kazuya Masu.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:電子情報通信学会総合大会 
英文: 
巻, 号, ページ         pp. C-12-37
出版年月 2008年3月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:電子情報通信学会総合大会 
英文: 
開催地
和文:北九州学術研究都市 
英文: 

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