【重要】T2R2・STARSearchの停止と後継システムについて
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タイトル
和文:
XeF2プラズマによるSiの垂直平滑ドライエッチング
英文:
Vertical and Smooth Dry Etching of Si by XeF2 Plasma
著者
和文:
松谷晃宏
, 大槻秀夫,
小山二三夫
.
英文:
Akihiro Matsutani
, Hideo Ohtsuki,
Fumio Koyama
.
言語
Japanese
掲載誌/書名
和文:
第26回プラズマプロセシング研究会
英文:
巻, 号, ページ
P3-6 pp. 426-427
出版年月
2009年2月
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
名古屋
英文:
Nagoya
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