Characterization of Defects-Location in Hydrogenated Microcrystalline Silicon Thin Films and Its Influence on Solar Cell Performance

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of Defects-Location in Hydrogenated Microcrystalline Silicon Thin Films and Its Influence on Solar Cell Performance

著者

和文:	檜座秀一, 山田明, 小長井誠.
英文:	Shuichi Hiza, Akira Yamada, Makoto Konagai.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

Vol. 47 No. 8 pp. 6222-6227

出版年月

2008年8月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

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DOI