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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:S-parameter-based modal decomposition of multiconductor transmission lines and its application to de-embedding 
著者
和文: 天川 修平, 山長 功, 伊藤 浩之, 佐藤 高史, 石原 昇, 益 一哉.  
英文: S. Amakawa, K. Yamanaga, H. Ito, T. Sato, N. Ishihara, K. Masu.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) 
巻, 号, ページ         pp. 177-180
出版年月 2009年4月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) 
開催地
和文: 
英文:Oxnard, California, USA 
ファイル
DOI https://doi.org/10.1109/ICMTS.2009.4814635

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