X-ray diffraction and infrared multiple-angle incidence resolution spectroscopic studies on the crystal structure and molecular orientation of Zinc-porphyrin thin films on a SiO<sub>2</sub>Si substrate

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	X-ray diffraction and infrared multiple-angle incidence resolution spectroscopic studies on the crystal structure and molecular orientation of Zinc-porphyrin thin films on a SiO₂Si substrate

著者

和文:	龍崎奏, 長谷川健, 尾上順.
英文:	Sou Ryuzaki, Takeshi Hasegawa, Jun Onoe.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	J. Appl. Phys.

巻, 号, ページ

Vol. 105 113529

出版年月

2009年6月

出版者

和文:
英文:	American Institute of Physics

会議名称

和文:
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開催地

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英文: