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論文・著書情報
タイトル
和文:
文化財へのRFID技術応用のためのICタグの耐候性試験
英文:
著者
和文:
安藤涼介
,
亀井宏行
,
古川桂
,
岡本篤志
, 山田卓司, 塚本敏夫.
英文:
Ryosuke Ando
,
HIROYUKI KAMEI
,
Katsura Kogawa
,
atsushi okamoto
, 山田卓司, 塚本敏夫.
言語
Japanese
掲載誌/書名
和文:
日本文化財科学会第26回大会研究発表要旨集
英文:
巻, 号, ページ
pp. 392-393
出版年月
2009年7月
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
日本文化財科学会第26回大会
開催地
和文:
名古屋市名古屋大学
英文:
©2007
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