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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Scaling Analysis of NEMS Memory Devices
著者
和文:
永見 佑
,
土屋 良重
,
内田 建
,
水田博
,
小田 俊理
.
英文:
T. Nagami
,
Y. Tsuchiya
,
K. Uchida
,
hiroshi mizuta
,
S. Oda
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
出版年月
2009年10月
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
G-COE PICE International Symposium on Silicon Nano Devices in 2030
開催地
和文:
東京
英文:
Tokyo
©2007
Tokyo Institute of Technology All rights reserved.