正反射測定法 （講座：赤外分光測定法－基礎と最新手法）

論文・著書情報

タイトル

和文:	正反射測定法（講座：赤外分光測定法－基礎と最新手法）
英文:	Reflection Measurements at Normal Incidence

著者

和文:	長谷川健.
英文:	Takeshi Hasegawa.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	分光研究
英文:

巻, 号, ページ

in press

出版年月

2010年8月

出版者

和文:	日本分光学会
英文:

会議名称

和文:
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開催地

和文:
英文:

アブストラクト

正反射測定法は，赤外光を通さない材料の化学構造を研究するのに多くの実績のある測定方法である．本章では，FT-IRでの正反射法の実験手法について述べる．また，得られた正反射スペクトルをクラマース-クローニヒの関係式を用いて解析する手法についても述べる．