薄膜・界面の外部反射測定法 （講座：赤外分光測定法－基礎と最新手法）

論文・著書情報

タイトル

和文:	薄膜・界面の外部反射測定法（講座：赤外分光測定法－基礎と最新手法）
英文:	External-Reflection Spectrometry for Analysis of Thin Films and Surfaces

著者

和文:	長谷川健.
英文:	Takeshi Hasegawa.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	分光研究
英文:

巻, 号, ページ

in press

出版年月

2010年6月

出版者

和文:	日本分光学会
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会議名称

和文:
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開催地

和文:
英文:

アブストラクト

光学的に平滑な誘電体基板に吸着した分子や薄膜は，赤外外部反射（ER）分光法で解析できる．ERスペクトルには，正や負の吸収ピークが混在して現れるのが特徴で，偏光・入射角・分子配向に大きく影響を受ける．ここでは，ER分光法の表面選択律について述べ，分子配向解析法についても解説する．