Development of Flaw Visualization Technique at Near Field of Phased Array Probe

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Development of Flaw Visualization Technique at Near Field of Phased Array Probe

著者

和文:	黒川悠.
英文:	Yu Kurokawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of the 2010 M&M International Symposium for Young Researchers

巻, 号, ページ

出版年月

2010年3月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2010 M&M International Symposium for Young Researchers

開催地

和文:
英文:	California, USA