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論文・著書情報


タイトル
和文:Si-CMOS基板上ダミーメタル入り伝送線路特性の固有値解析と測定 
英文: 
著者
和文: 小野雄也, 平野拓一, 岡田健一, 廣川二郎, 安藤 真.  
英文: Yuuya Ono, Takuichi Hirano, Kenichi Okada, JIRO HIROKAWA, Makoto Ando.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集, 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2010年9月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:電子情報通信学会ソサイエティ大会 
英文: 
開催地
和文:大阪府立大 
英文: 

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