Interconnect challenges in nano CMOS circuit

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Interconnect challenges in nano CMOS circuit

著者

和文:	益一哉, 天川修平, 石原昇.
英文:	Kazuya Masu, Shuhei Amakawa, Noboru Ishihara.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	International Symposium on Technology Evolution for Silicon Nano-Slectronics (ISTESNE)

巻, 号, ページ

pp. 28

出版年月

2010年6月

出版者

和文:
英文:	International Symposium on Technology Evolution for Silicon Nano-Slectronics (ISTESNE)

会議名称

和文:
英文:	International Symposium on Technology Evolution for Silicon Nano-Slectronics (ISTESNE)

開催地

和文:
英文:	Tokyo, Japan