Admittance Measurement for a Quantum Point Contact in a Multi-terminal Quantum Hall Device

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Admittance Measurement for a Quantum Point Contact in a Multi-terminal Quantum Hall Device

著者

和文:	鷲尾和久, 橋坂昌幸, 鎌田大, 村木康二, 藤澤利正.
英文:	K. Washio, M. Hashisaka, H. Kamata, K. Muraki, T. Fujisawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

vol. 50 04DJ04

出版年月

2011年4月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

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英文: