Grain boundary assisted degradation and breakdown study in cerium oxide gate dielectric using scanning tunneling microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Grain boundary assisted degradation and breakdown study in cerium oxide gate dielectric using scanning tunneling microscopy

著者

和文:	K. Shubhakar, K.L. Pey, S.S. Kushvaha, S.J. O'Shea, N. Raghavan, M. Bosman, 幸田みゆき, 角嶋邦之, 岩井洋.
英文:	K. Shubhakar, K.L. Pey, S.S. Kushvaha, S.J. O'Shea, N. Raghavan, M. Bosman, Miyuki Kouda, Kuniyuki KAKUSHIMA, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Applied Physics Letters

巻, 号, ページ

Vol. 98 No. 072902

出版年月

2011年2月

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

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DOI