デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードの動作特性 ―キャリアの挙動によるリカバリー特性の解析―

論文・著書情報

タイトル

和文:	デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードの動作特性 ―キャリアの挙動によるリカバリー特性の解析―
英文:	Operating Performance of Parallel-Connected pin Diodes Using a Physics-Based Device Model : Reverse-Recovery Analysis Considering Carrier Dynamics

著者

和文:	杉本貴之, 冨永真志, 漆畑廣明, 藤田英明, 赤木泰文, 堀口剛司, 木ノ内伸一, 大井健史.
英文:	Takayuki Sugimoto, Shinji Tominaga, Hiroaki Urushibata, Hideaki Fujita, Hirofumi Akagi, Takeshi Horiguchi, Shin-ichi Kinouchi, Takeshi Oi.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	電気学会研究会資料
英文:

巻, 号, ページ

no. SPC-11-017 pp. 97-102

出版年月

2011年1月21日

出版者

和文:
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会議名称

和文:	半導体電力変換研究会
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開催地

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