Comparison of Interface Characterization between Ag(In,Ga)Se2 and Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells by High-Angle-Annular Dark-Field Scanning Transmission Electron Microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Comparison of Interface Characterization between Ag(In,Ga)Se2 and Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells by High-Angle-Annular Dark-Field Scanning Transmission Electron Microscopy

著者

和文:	張険峰, 小林剛, 黒川康良, Yoshiyuki Tashiro, Masahiro Ohtsuka, Tomoyuki Yamada, 山田明.
英文:	Zhang Xianfeng, Tsuyoshi Kobayashi, Yasuyoshi Kurokawa, Yoshiyuki Tashiro, Masahiro Ohtsuka, Tomoyuki Yamada, Akira Yamada.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Jpn. J. Appl. Phys.

巻, 号, ページ

50 126603

出版年月

2011年11月24日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: