Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Experimental study of electron mobility characterization in direct contact La-silicate/Si structure based nMOSFETs 
著者
和文: 川那子高暢, 李映勲, 角嶋邦之, パールハットアヘメト, 筒井一生, 西山彰, 杉井信之, 名取研二, 服部健雄, 岩井洋.  
英文: Takamasa Kawanago, Yeonghun Lee, Kuniyuki KAKUSHIMA, Ahmet Parhat, KAZUO TSUTSUI, 西山彰, Nobuyuki Sugii, Kenji Natori, takeo hattori, HIROSHI IWAI.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Solid-State Electronics 
巻, 号, ページ Vol. 74        pp. 2-6
出版年月 2012年8月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1016/j.sse.2012.04.003

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.