Structural analysis of NiO ultra-thin films epitaxially grown on ultra-wmooth sapphire substrates by synchrotron X-ray diffraction measurements

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Structural analysis of NiO ultra-thin films epitaxially grown on ultra-wmooth sapphire substrates by synchrotron X-ray diffraction measurements

著者

和文:	坂田修身, Min-Su Yi, 松田晃史, 劉進, 佐藤周平, 秋葉周作, 佐々木敦.
英文:	OSAMI SAKATA, Min-Su Yi, Akifumi Matsuda, Jin Liu, Shuhei Sato, Shusaku Akiba, Atsushi Sasaki.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Applied Surface Science

巻, 号, ページ

Vol. 221 450-454

出版年月

2004年1月

出版者

和文:	Elsevier
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: