エラー検出回復方式を用いた可変レイテンシ回路のための高速な性能見積もり手法

論文・著書情報

タイトル

和文:	エラー検出回復方式を用いた可変レイテンシ回路のための高速な性能見積もり手法
英文:	Fast Performance Estimation Method for Variable Latency Circuits with Error Detection/Correction Mechanism

著者

和文:	安藤健太, 高橋篤司.
英文:	Kenta Ando, Atsushi Takahashi.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	情報処理学会研究報告
英文:	IPSJ SIG Technical Reports

巻, 号, ページ

Vol. 2013-SLDM-160 No. 16 pp. 1-6

出版年月

2013年3月13日

出版者

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会議名称

和文:	システムLSI設計技術研究会
英文:	System LSI Design Methodology

開催地

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