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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Electrical characteristics of AlGaN/GaN HEMT with La-oxide gate dielectrics
著者
和文:
陳江寧
,
鹿 国強
,
角嶋邦之
,
パールハットアヘメト
,
片岡好則
,
西山彰
,
杉井信之
,
筒井一生
,
名取研二
,
服部健雄
,
岩井洋
.
英文:
Jiangning Chen
,
鹿 国強
,
Kuniyuki KAKUSHIMA
,
パールハットアヘメト
,
片岡好則
,
西山彰
,
Nobuyuki Sugii
,
KAZUO TSUTSUI
,
Kenji Natori
,
takeo hattori
,
HIROSHI IWAI
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
出版年月
2013年
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
Workshop and IEEE EDS Mini-colloquium on Nanometer CMOS Technology (WIMNACT 37)
開催地
和文:
英文:
Tokyo
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.