【重要】T2R2・STARSearchの停止と後継システムについて
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タイトル
和文:
複数探触子を用いたTOFD法によるきずの位置と寸法の同定法
英文:
Identification of Size and Position of Flaw by the TOFD Method using Multiple Probes
著者
和文:
黒川悠
,
井上裕嗣
.
英文:
Yu Kurokawa
,
Hirotsugu Inoue
.
言語
Japanese
掲載誌/書名
和文:
非破壊検査
英文:
巻, 号, ページ
Vol. 62 No. 2 pp. 104-111
出版年月
2013年2月
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
DOI
https://doi.org/10.11396/jjsndi.62.104
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