Using High Frequency Acoustic Micro Imaging to Detect Defects in Artificial Micro Void Specimens

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Using High Frequency Acoustic Micro Imaging to Detect Defects in Artificial Micro Void Specimens

著者

和文:	田原麻梨江, T. Azuma, K. Hashiba, T. Maruyama, Y. Kenbo.
英文:	M. Tabaru, T. Azuma, K. Hashiba, T. Maruyama, Y. Kenbo.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of 2010 IEEE International Ultrasonics Symposium

巻, 号, ページ

pp. 2388-2391 (P6-N1-4)

出版年月

2010年10月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2010 IEEE International Ultrasonic Symposium

開催地

和文:
英文:	San Diego