Improved threshold voltage instability in organic field-effect transistors formed with SiO2 gate dielectrics thermally annealed at high temperatures

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Improved threshold voltage instability in organic field-effect transistors formed with SiO2 gate dielectrics thermally annealed at high temperatures

著者

和文:	國井正文, 飯野裕明, 半那純一.
英文:	Masafumi Kunii, Hiroaki Iino, Jun-ichi Hanna.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Abstract of 2nd International Symposium on Self-Organizing Molecular Semiconductors

巻, 号, ページ

出版年月

2014年2月27日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2nd International Symposium on Self-Organizing Molecular Semiconductors

開催地

和文:	東京都目黒区大岡山
英文:	Ookayama, Meguro-ku, Tokyo