【重要】T2R2・STARSearchの停止と後継システムについて
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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
A Fast Lithographic Mask Correction Algorithm
著者
和文:
AWAD Ahmed
,
高橋 篤司
.
英文:
Ahmed Awad
,
Atsushi Takahashi
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
電子情報通信学会技術研究報告 (VLD2014-153)
英文:
IEICE Technical Report (VLD2014-153)
巻, 号, ページ
Vol. 114 No. 476 pp. 1-6
出版年月
2015年3月2日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
VLSI設計技術研究会
英文:
Technical Committee on VLSI Design Technologies
開催地
和文:
英文:
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