(C-1-06) Characterization of Amorphous Silicon Passivation Layer Deposited by Facing Target Sputtering Using Temperature-Dependent Minority Carrier Lifetime Measurement

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	(C-1-06) Characterization of Amorphous Silicon Passivation Layer Deposited by Facing Target Sputtering Using Temperature-Dependent Minority Carrier Lifetime Measurement

著者

和文:	白取優大, 中田和吉, 宮島晋介.
英文:	Yuta Shiratori, Kazuyoshi Nakada, Shinsuke Miyajima.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2017年9月20日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2017 International Conference on Solid State Devices and Materials

開催地

和文:
英文:	Sendai