超極細電子線によるコヒーレント照射顕微法の実証研究 | T2R2 東京工業大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	超極細電子線によるコヒーレント照射顕微法の実証研究
英文:	Coherent Microscopy based on Ultra-fine Electron Beam

著者

和文:	澁谷達則.
英文:	Tatsunori Shibuya.

種別

種別:	学位論文(博士)審査の要旨
国名:	日本

言語

Japanese

学位授与組織

東京工業大学

報告番号

甲第10494号

学位授与日

2017/03/26

審査員

林﨑規託, 小栗慶之, 矢野豊彦, 赤塚洋, 吉田克己.

ファイル

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