赤外線2次元ロックインアンプによる基板近傍電磁界分布測定

論文・著書情報

タイトル

和文:	赤外線2次元ロックインアンプによる基板近傍電磁界分布測定
英文:	Measurement of Electromagnetic Field Intensity Measurement near Circuit Bord using Infrared 2-D Lock-in Amplifier

著者

和文:	千代憲隆, 小峯祐司, 田中康寛, 西方敦博, 平野拓一, 前野恭.
英文:	千代憲隆, 小峯祐司, 田中康寛, Atsuhiro Nishikata, Takuichi Hirano, 前野恭.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	信学技報
英文:

巻, 号, ページ

Vol. 111 no. 64 pp. 13-18

出版年月

2011年5月19日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:	電子情報通信学会環境電磁工学研究会
英文:	IEICE-EMCJ

開催地

和文:	東京
英文:	Tokyo