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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Reliability Evaluation of Au-Cu Microcantilever by Long-Term Vibration Test toward MEMS Components 
著者
和文: 新田 京太朗, 橘 航一朗, TangHao-Chun, 陳 君怡, Chang Tso-Fu Mark, 山根 大輔, 小西 敏文, 町田 克之, 伊藤 浩之, 益 一哉, 曽根 正人.  
英文: Kyotaro Nitta, Koichiro Tachibana, Hao-Chun Tang, Chun-Yi Chen, Tso-Fu Mark Chang, Daisuke Yamane, Toshifumi Konishi, Katsuyuki Machida, Hiroyuki Ito, Kazuya Masu, Masato Sone.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Nano Engineering and Microsystem Technology Conference, Taiwan 
巻, 号, ページ        
出版年月 2018年6月1日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:The 2nd Taiwan-Japan Joint Symposium in Taiwan, by The study group of the Integrated MEMS of JSAP & Nano Engineering and Microsystem Technology Conference, Taiwan 
開催地
和文: 
英文:Taipei 

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