X-ray structural analysis of epitaxially grown Ag film/Si(111)Root3xRoot3-B substrate interface

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	X-ray structural analysis of epitaxially grown Ag film/Si(111)Root3xRoot3-B substrate interface

著者

和文:	吉池雄作, H. Tajiri, 山﨑詩郎, 中辻寛, 平山博之.
英文:	Y. Yoshiike, H. Tajiri, S. Yamazaki, K. Nakatsuji, H. Hirayama.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Jpn. J. Appl. Phys.

巻, 号, ページ

vol. 57 pp. 075701(1)-(8)

出版年月

2018年6月20日

出版者

和文:
英文:

会議名称

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英文:

開催地

和文:
英文: